Committees - High-Resolution Depth Profiling
June 27th - 30th, 2011

International Committee

P. Bailey (UK)                          M. Copel (USA)

J. O’Connor (Australia)            T. Gustafsson (USA)

Y. Kido (Japan)                          K. Kimura (Japan)

T. Koshikawa (Japan)                D. W. Moon (Korea)

I. Vickridge (France)                   D.P. Woodruff (UK)

Program Committee

V. Esaulov (Orsay)                   P. Roncin (Orsay)

M. D’Angelo (paris)                 D. Schmaus (Paris)

D. Jalabert (Grenoble)               J-J. Ganem (Paris)

C Deville-Cavellin (Paris)

Local Committee

D. Schmaus (Paris)             C. Deville-Cavellin (Paris)

M. D’Angelo (Paris)           I. Trimaille (Paris)

S. Younés (Paris)                 E. Briand (Paris)

S. Steydli (Paris)                  G. Deokar (Paris)

D. Benzeggouta (Paris)         E. Vickridge (Paris)

L. Collin (Paris)                    J-J. Ganem (Paris)